臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀只有一個(gè)探測器,它對(duì)測量X射線能量范圍是不受限制的,而且這個(gè)探測器能同時(shí)測量到所有能量的X射線。也就是說只要激發(fā)樣品的X射線的能量和強(qiáng)度能滿足激發(fā)所測樣品的條件,對(duì)一組分析的元素都能同時(shí)測量出來。
激發(fā)輻射的散射將影響樣品中元素的特征輻射強(qiáng)度,這是由于散射過程將影響光譜的背景。此外,還存在兩個(gè)主要的效應(yīng):樣品中激發(fā)輻射被吸收和由此產(chǎn)生的或由其他元素(基體)發(fā)射的熒光輻射及樣品中其他元素的次級(jí)激發(fā)(增強(qiáng))。
臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀樣品中測試元素的特征譜線的強(qiáng)度會(huì)受到其它元素的干擾,典型的干擾如下:
1、逃逸峰
逃逸峰的產(chǎn)生機(jī)理:進(jìn)入硅檢測器的X熒光如果其能量比硅的吸收限(1.74KeV)高,那么該入射X熒光會(huì)激發(fā)出新的硅X熒光,當(dāng)部分硅的X熒光逃逸出監(jiān)測器時(shí),探測器只能探測到原入射X熒光損失了1.74KeV之后的能量,從而形成逃逸峰。
2、和峰
和峰的產(chǎn)生機(jī)理:當(dāng)多束X熒光在幾乎同一時(shí)間射入檢測器時(shí),這些射線的能譜累積處會(huì)出現(xiàn)和峰,檢測器會(huì)將其誤判為另外一種元素的特征射線。在針對(duì)RoHS禁用物質(zhì)的檢測中,如果鉛大量存在,那么,在Pb-Lb1、Pb-Lα線累積并加倍的位置會(huì)出現(xiàn)一個(gè)和峰,該峰于Cd的能譜位置重疊,對(duì)元素Cd的測定產(chǎn)生影響。
3、As對(duì)Pb的影響
在對(duì)RoHS禁用物質(zhì)的檢測中,Pb-Lα線和As-Kα線有重疊,因此,在樣品中含有大量元素As時(shí),會(huì)對(duì)元素Pb的測定結(jié)果產(chǎn)生影響。
4、高Br對(duì)Pb的影響
當(dāng)樣品中含有大量Br的時(shí)候,會(huì)把相鄰的Pb、Lb峰蓋住或抬高,則影響到元素Pb的測定結(jié)果。