X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來(lái)精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過(guò)分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。

　　X射線衍射儀的技術(shù)特點(diǎn)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

　　1、高穩(wěn)定度X射線源：提供測(cè)量所需的X射線，通過(guò)改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度?，F(xiàn)代粉末衍射儀的光源穩(wěn)定性一般在外電源變化10%以內(nèi)，輸出變化0.01%以內(nèi)。

　　2、樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)：樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊，通過(guò)樣品臺(tái)和相關(guān)裝置調(diào)整樣品的位置和取向，以滿足不同的測(cè)試需求。

　　3、射線檢測(cè)器：檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向，通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。檢測(cè)器的種類多樣，如NaI（Tl）閃爍計(jì)數(shù)器、正比計(jì)數(shù)器、半導(dǎo)體陣列檢測(cè)器等，各有其優(yōu)缺點(diǎn)，適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)景。

　　4、衍射圖的處理分析系統(tǒng)：現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，具有自動(dòng)化和智能化的特點(diǎn)，可以快速、準(zhǔn)確地處理衍射數(shù)據(jù)，得到物相信息、晶體結(jié)構(gòu)、晶胞參數(shù)等結(jié)果。

　　5、高精度測(cè)量：能夠精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析等。例如，在物相分析中，可以通過(guò)與已知標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)對(duì)比，確定樣品中存在的物相；在點(diǎn)陣參數(shù)測(cè)定中，可用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的測(cè)定、固溶體類型的確定以及熱膨脹系數(shù)等物理常數(shù)的計(jì)算。

　　6、無(wú)損試樣：對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試時(shí)不會(huì)對(duì)試樣造成損傷，保持了試樣的完整性，使得測(cè)試后的樣品還可以進(jìn)行其他后續(xù)測(cè)試或進(jìn)一步的研究。