X射線衍射儀具有精度高、準(zhǔn)確度高、機(jī)械穩(wěn)定性好、經(jīng)久耐用、易升級(jí)、操作簡便和智能化的特點(diǎn)，能靈活地適應(yīng)化工、材料、地質(zhì)等行業(yè)的測試分析與研究。采用當(dāng)前醉的技術(shù)，能夠精確地對金屬和非金屬多晶粉末樣品進(jìn)行物相檢索分析、物相定量分析、薄膜材料的物相、厚度、密度、粗燥度分析。晶胞參數(shù)計(jì)算和固溶體分析以及纖維樣品的取向、結(jié)晶度分析,X射線小角散射分析。

　　X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

　　X射線衍射儀的主要優(yōu)勢：

　　1、直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度；

　　2、全部組件可以拆分為7個(gè)模塊，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；

　　3、可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算；

　　4、可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析；

　　5、光學(xué)系統(tǒng)可以在Bragg-Brentano聚焦和Johansson或拋面鏡單色器自由切換；

　　6、高分辨的反射技術(shù)，讓檢測厚度至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?/div>