電子芯片檢測(cè)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

箱體

1. 外殼材質(zhì)

• 外殼采用優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板制作，表面經(jīng)過防銹處理和靜電噴塑工藝，不僅美觀大方，而且具有良好的耐腐蝕性，能適應(yīng)不同的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。

2. 內(nèi)箱材質(zhì)

• 內(nèi)箱使用 SUS304 不銹鋼板，這種材料具有良好的耐高低溫性能、耐腐蝕性和易清潔性，確保在長(zhǎng)期的高低溫試驗(yàn)過程中，內(nèi)箱表面不會(huì)因溫度變化或試驗(yàn)樣品的影響而損壞。

3. 保溫材料

• 箱體中間填充高效保溫材料，如聚氨酯泡沫，其導(dǎo)熱系數(shù)低，能夠有效減少熱量傳遞，保證試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度穩(wěn)定，同時(shí)也有助于降低能耗。

電子芯片檢測(cè)高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱

箱體結(jié)構(gòu)：

全部功能采用計(jì)算機(jī)控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀，保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間的參數(shù)，使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換，按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。

技術(shù)參數(shù)

（一）溫度范圍

1. 高溫區(qū)

• 高溫范圍一般可達(dá) + 150℃至 +200℃（可根據(jù)用戶需求定制），能夠滿足大多數(shù)產(chǎn)品的高溫測(cè)試要求，例如模擬電子設(shè)備在高溫環(huán)境下的工作狀態(tài)，檢測(cè)其性能是否穩(wěn)定。

2. 低溫區(qū)

• 低溫范圍通常為 -40℃至 -60℃，可以模擬產(chǎn)品在寒冷環(huán)境中的使用情況，如汽車零部件在極寒天氣下的性能測(cè)試。

（二）溫度波動(dòng)度

• 溫度波動(dòng)度控制在 ±0.5℃以內(nèi)，通過好的溫度控制技術(shù)和高精度的溫度傳感器，確保試驗(yàn)過程中溫度的穩(wěn)定，為產(chǎn)品測(cè)試提供精準(zhǔn)的溫度環(huán)境。

（三）溫度均勻度

• 溫度均勻度在 ±2℃以內(nèi)，這得益于合理的風(fēng)道設(shè)計(jì)和高效的風(fēng)冷系統(tǒng)，使得箱內(nèi)各個(gè)位置的溫度差異較小，保證放置在不同位置的試驗(yàn)樣品都能在相同的溫度條件下進(jìn)行測(cè)試。

（四）冷熱沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間

• 冷熱沖擊轉(zhuǎn)換時(shí)間短，能夠在數(shù)分鐘內(nèi)（如 3 - 5 分鐘）完成從高溫到低溫或從低溫到高溫的快速轉(zhuǎn)換，這種快速的溫度變化可以有效模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度沖擊情況。